Технічне вдосконалення еталонної бази в ДП “КИЇВОБЛСТАНДАРТМЕТРОЛОГІЯ”

ДП “КИЇВОБЛСТАНДАРТМЕТРОЛОГІЯ” продовжує вдосконалювати свою метрологічну базу.

Маємо чудову новину!

Придбано новий двокоординатний вимірювальний прилад (мікроскоп)  ДИП 1М, призначений для вимірювання лінійних та кутових розмірів у прямокутних і полярних координатах з високою точністю.

Час вимірювань при цьому значно скоротився.

Дискретність датчиків 0,5 мкм, найбільша глибина вимірювальних отворів 40 мм.

Сфери застосування:

• вимірювання розмірів та допусків високоточних деталей;
• аналіз мікроструктури металів і сплавів;
• дослідження поверхонь та виявлення дефектів матеріалів.

Запрошуємо до співпраці підприємства, організації та лабораторії, які потребують професійного метрологічного супроводу та точних вимірювань.

Зв’яжіться з нами за телефонами: (044) 333 94 84 та (050) 388 75 35.