У своїй технічній базі ДП “КИЇВОБЛСТАНДАРТМЕТРОЛОГІЯ” активно використовує двокоординатний вимірювальний прилад (мікроскоп) ДИП-1М.Цей високоточний прилад призначений для вимірювання лінійних та кутових розмірів як у прямокутних, так і в полярних координатах.
Завдяки впровадженню ДИП-1М час вимірювань значно скоротився, що дозволяє нам оперативновиконувати метрологічні роботи.
Дискретність датчиків 0,5 мкм, найбільша глибина вимірювальних отворів 40 мм.
Сфери застосування цього мікроскопа охоплюють критично важливі для промисловості завдання:
- Вимірювання розмірів та допусків високоточних деталей.
- Аналіз мікроструктури металів і сплавів.
- Дослідження поверхонь та виявлення дефектів матеріалів.
Швидкість та точність є нашими пріоритетами! Ми запрошуємо до співпраці підприємства, організації та лабораторії, яким необхідний професійний метрологічний супровід та проведення високоточних вимірювань.
Зв’яжіться з нами за телефонами: (044) 333 94 84 та (050) 388 75 35.